GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 正式版
- 文件大小：1.24 MB
- 标准类型：航空航天民航
- 标准语言：中文版
- 文件类型：PDF文档
- 更新时间：2023-12-21
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资料介绍
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
标准号：GB/T 43226-2023
标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
英文名称：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
引用标准：GB 18871-2002
起草人：赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
标准号：GB/T 43226-2023
标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
英文名称：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
引用标准：GB 18871-2002
起草人：赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)