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GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

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  • 标准类型
  • 标准语言:简体中文
  • 文件类型:PDF
  • 更新时间:2000-01-18
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资料介绍

本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。

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