GB∕T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
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- 标准类型：电子信息
- 标准语言：中文版
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- 更新时间：2022-01-08
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资料介绍
GB∕T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。
标准号：GB/T 5095.2503-2021
标准名称：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
英文名称：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3:Test 25c: Rise time degradation
采用标准：IEC 60512-25-3:2001
采标名称：《电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》
采标程度：IDT 等同采用
起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙
起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院
归口单位：全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC 166)
GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。
标准号：GB/T 5095.2503-2021
标准名称：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
英文名称：Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3:Test 25c: Rise time degradation
采用标准：IEC 60512-25-3:2001
采标名称：《电子设备用连接器 试验和测量 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》
采标程度：IDT 等同采用
起草人：庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙
起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院
归口单位：全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC 166)