GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
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- 更新时间：2019-06-25
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资料介绍
GB/T 4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。
本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。