GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。
本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件(CCD)、光电耦合器,图像敏感器(APS)、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。